Tektronix 直接合成功能可協助高速串列資料量測

jiming

針對 SATA 接收器測試設計的 AWG7000 任意波形產生器獨特測試功能

（2007 年 5 月11日，台北訊）－ 全球測試、量測和監控儀器的領導廠商 Tektronix，宣布該公司在直接合成 （DS）應用方面的重要進展，此項技術可供高速串列接收器進行相容性測試，是一個彈性又穩定的方法，可建立理想或畸變波形，接著再交由 Tektronix AWG7000 任意波形產生器直接合成。這可進行高速串列資料接收器精確一致的測試，進而生產出更高品質的運算與消費性電子裝置。AWG7000 的直接合成已被 SATA Interop Workshop (IW) 核准為標準的測試技術，並於 2007 年 4 月 30 日在加州 Milpitas 舉辦的第 3 場 SATA-IO Interop Workshop，套用至尋求 SATA IW 認證的產品上。  
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隨著資料傳送速率的持續增加，時序邊緣的減少，已迫使業界採用更加嚴苛與全面性的測試方法。測試範圍最後的範疇之一是接收器測試。此一測試的複雜性向來是主要的挑戰，而取得高速 NRZ 產生器間的一致設定，並具備所需的標準組織規格要求畸變等級，對於成功部署這些測試實作而言，是真實而重大的障礙。使用外部的符號間干擾產生硬體，搭配混合弦波項的微波，會產生難以任意無誤重現的實驗室設定。AWG7000 的直接合成功能，可進行穩定一致的串列資料量測，針對高速串列資料接收器相容性測試，提供了前所未有的簡易性、彈性與速度。

6 c2 s# O  \( K, J# g2 XTektronix 技術解決方案團隊經理 Jit Lim 表示：「設計師幾乎只能完全仰賴數位資料產生器來產生供串列測試所需的二進位訊號。這些測試相當的複雜昂貴，且可能會產生不一致的結果。而在信號源領域中以 Tektronix AWG7000 直接合成功能處理過的新訊號，正可改變這種情況。AWG7000 的直接合成功能，可讓工程師輕鬆創造出，透過傳輸線產生傳播效應的訊號。上升時間、脈衝形狀、延遲與偏差都可受到控制，這正是進行嚴苛的串列匯流排測試所需。」
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! O7 J/ u0 K& a# s' k在針對高速串列資料測試，發展和部署完整的直接合成技術方面，Tektronix 已成為先鋒。工程師只要叫出包含所有相關標準、要求抖動項目與訊號畸變的設定檔案，無需任何其他外部元件或所需的混合元件。AWG 設定檔部署，可透過檔案的電子流通來進行管理，讓全世界的系統可同步化而具備共同一致的一般屬性，無須額外的硬體。   
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Tektronix 信號源產品線的行銷經理 Bob Buxton 表示：「AWG7000 的直接合成，以極具競爭力的測試成本，提供了波形產生的終極彈性，相較於其他使用各種複雜訊號產生機盒與模組的解決方案，具備了更佳的測試穩定性。直接合成可用以模仿任何形式的通道畸變，甚至可提供在進行整體測試設定與接線時，預先補償訊號損耗的功能，這是所有其他數位訊信號產生產品都做不到的。」

. b0 s. @2 T1 T5 w. V單一 AWG7000 式系統所涵蓋範圍的多用途與廣度，可針對各種廣泛的技術或標準，輕鬆地進行設計與相容性測試，只要按鈕即可。具備 10 位元的垂直精確度與 20GS/sec 的取樣率，高度多用途的 AWG7102 可進行任何形式的複雜訊號產生。從複雜的均衡計畫、多重等級的發訊與預先加強、能以從零延續進行掃描 ISI，到進行具數位精確度的多重 UI 抖動，AWG7102 提供了使用者前所未有的測試彈性。  
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+ L7 E: G9 h0 z# s5 f如需關於直接合成如何協助串列設計師的詳細資訊，請造訪：http://www2.tek.com/cmswpt/tidow ... p;ci=4711&lc=EN

有關AWG7000
! f6 U- S8 ?5 ]1 D  ]在去年秋天推出的AWG7000，是任意波形產生器中可以高達 20GS/s 速度進行高速串列資料測試的儀器，並能夠產生資料串，包括各種不完整特性，例如資料傳輸率達 10Gb/s 時所產生的雜訊及抖動。AWG7000 具備 2 個類比通道和 4 個標記輸出，可為類比訊號和數位控制通道，提供混合訊號波形。同時，在串列資料方面，AWG7000的高取樣率，能讓開發人員在不需要搭配累贅的外部元件，也不需要浪費多個輸出通道，就能產生預加強及解加強，或是如 4 脈衝振幅調變 (PAM) 等多層次訊號。所以， AWG7000 是現今市場上最先進、用途最廣的訊號產生器。有了AWG7000，設計和測試工程師便能夠建置、複製、及產生各種理想的、失真的，或是「真實」的訊號，包括雜訊、抖動、突波和其他不完整的訊號等，以為最新的串列資料設計提供原型、除錯、驗證及標準相容等協助。