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[問題求助] 畫電阻時為何需要考慮邊緣與彎曲的地方?

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1#
發表於 2007-8-12 20:25:21 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
小妹又來了。
0 {7 N  ]3 _3 G; h5 J' H這次我的問題是:
) D1 h0 ]7 k- Y4 x4 N3 E+ J4 Y1.當在畫電阻時會以contact來連接,以做成較大的電阻,聽說contact的邊緣與電阻也有關係,要考慮進去這是為什麼?
. h; _9 ~. N/ @' `; B+ o2.當電阻彎曲時,也會使電阻產生不確定的因素,why?(如下圖)
5 J" H/ `+ D# M2 [* O# s
* I0 e4 U4 d; a# J3.以non-silicided poly畫電阻對Body會產生較小的寄生電容(與silicided poly相較),why?
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2#
發表於 2007-8-12 23:22:49 | 只看該作者
1、一般1個contact的resistor是固定的,可參考foundary的資料,一般L=Lm+dL,W=Wm。* K; j- P1 m  Z+ Q7 }4 a
2、彎曲電阻的不確定性只要考慮current的流動(想像水的流動)你就知道了。
8 s6 u8 C: e, I$ K3、查capacitor的公式就知道了,C=eA/d,e表示介電常數(為2個級板),現在substrate是silicon,所以.以non-silicided poly  
# W9 S2 b. B" U. |     畫電阻對Body會產生較小的寄生電容。

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woo240 + 2 熱心回覆! 謝謝回答唷,對我很有幫助!

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3#
發表於 2007-8-14 10:25:16 | 只看該作者

作 TFT 的人之淺見

1. contact hole 的 edge 很容易因曝光而產生差異,曝光不足或過量,都會有形變而造成 contact面積上的變化。再者,edge 容易有爬坡問題,其所造成阻抗變動,較難估算(此為 TFT Thin Film Process 易遇到的 issue)。但就發問同學所提問內容,應是考慮 R=Rs*L/W 的式子,在 contact hole 處所代入的 W 及 L;但這有很多人作過相關研究了喔,查一下應該有數據或公式可以直接代的喔。0 g1 f, \2 ~% j7 c4 n. _

. j% P* L# \1 E8 q! t& @2.同上。轉角處的電阻,印象中的數據,以方格電阻計,為一正方格的 2/3 還是 3/5 ..... 忘記了.....* q8 G7 b( R6 O2 I+ I; y9 d
1 R% M5 D) `" f. h/ n" N- b
3.以下純屬猜測:是因為等阻值 Layout,non-silicided poly 佔用較小面積,而 silicided poly 需佔用較大面積嗎 ?

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參與人數 1 +2 收起 理由
woo240 + 2 熱心回覆!TFT方面的回答對我也很有幫 ...

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4#
 樓主| 發表於 2007-8-16 16:59:16 | 只看該作者
小妹還有個問題. s# O0 C: a6 ^) k5 I4 g
1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的9 t, ]1 e2 I$ k3 G5 q% ^5 t
  是否說"對低阻抗而言電流擁擠與轉角的不協調是不重要的”
5#
發表於 2007-8-16 23:09:18 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-16 04:59 PM 發表
9 p% c& e4 p. C3 j# \小妹還有個問題
" V5 t2 e: ?7 a* S/ u1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的
2 N9 a4 g7 V6 `1 J3 s  是否說"對低阻抗而言電流擁擠與轉角的不協調是不重要的”

6 I9 k0 _6 W9 S- S; Z9 w" t1 g$ C. T( y* l8 b7 E( f6 a
3 o  d% S2 v: W
須注意相關current density的問題......................
6#
發表於 2007-8-17 10:30:07 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-12 08:25 PM 發表 / G% d3 D# b# _3 C' _
小妹又來了。2 s0 a8 o: O+ f$ u
這次我的問題是:+ g2 Z# _( t, J) u1 S& |: l- x
1.當在畫電阻時會以contact來連接,以做成較大的電阻,聽說contact的邊緣與電阻也有關係,要考慮進去這是為什麼?6 p- P" g! a; t7 ^0 }/ T  m1 F$ l9 W
2.當電阻彎曲時,也會使電阻產生不確定的因素,why?(如下圖 ...

1 U% \6 Q' ]4 q/ ~
& a( _, `1 t$ @Q1:當contact連接到下層的metal時,會有接面電阻..因此要考慮的應該是contact到metal間的電阻
+ M: x/ `. U0 |. X1 }     但因為要接contact, metal必須畫大一點..但是poly的電阻是以一口來作為計算的準則$ z  `$ _. B' {, {# M4 u5 X1 m
     雖然電阻看起來是比較大,但是在L/W都一樣的情況下,poly電阻的大小都一樣大
1 g- w5 v4 g9 p; y. [     例如: L/W=1/1和L/W=1.5/1.5時,兩個電阻都一樣大- k8 p8 u3 Q: f+ u  [' u! K0 o' A: ~
     因此第一個contact接到metal,應該要考慮的是接面電阻; D  p7 P$ F& l9 l5 f' R6 Y$ X

! k. ~( [1 v) T& |. mQ2:在製程時,會有所謂的邊緣擴散~+ h7 c0 w; t9 B7 D3 k
     依照這樣轉角的電阻畫法,因為排列的不相同,; N4 `7 \4 ]3 \1 p: c1 Q$ i2 X
     所以擴散的情況也會不同.' C0 O+ C1 b3 @
     若是轉角擴散情況嚴重,造成上下兩條直線接在一起
# }4 M9 x# L0 |( X. f3 S6 H) S     整體的電阻值會變得無法預測..(以一般.35製程來說...實際下線的電阻値與劃出來的電阻值約會下降10%)8 I  S9 P, S1 U1 U
     因此通常在繪製電阻時,通常會採用串聯的方式..; P; Z" }- u3 D7 o) `* b5 _1 ?/ p5 h
     分別繪製相同大小阻值的電阻串聯起來~來達到想要的電阻! F1 N2 z8 X8 K4 |  D! f
     這種作法,因為每一段電阻值都相同,因此可以假測變動的情況也會相同8 j0 m% `1 i7 g9 L/ f' u" R" o
     但是整體而言,因為一起變動,可以把電阻的變動直降到較低的情況5 Q- ]- a( c6 b! u: X" T

3 A1 D! w8 T4 R( ]     這種轉角的電阻畫法,還有另一種缺點:: X, j: U" a. p  F6 H
     因為電子會在轉角處聚集較多的電子,因此在轉角處會較易過熱8 {  `; o  J9 N  `
     容易造成electromigration,也就是所謂的電子遷移..1 ]4 Z' a$ x4 O: l. o
     更簡單的來說,再轉角過熱的情況,該處的金屬容易因為過熱而斷掉或因為熱擴散造成電阻值變動& }! ~0 @3 a4 h& q. l* l( e' J
     
+ {/ c7 r2 E+ V9 g7 E* f     這兩個是轉角畫法較嚴重的問題+ w9 }/ s. i3 {

; F# A) i7 K& W3 p3 B8 E
7 E1 Y6 u8 A, F( N. I7 n另外是Q1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的1 o$ Y+ S0 @/ Q2 ?  ]
這個問題,以實際的製程來說,電阻畫的越小,在製程時造成的邊緣擴散效應較低
; R' y" I7 a& }. k$ J5 n因此電阻值畫的越小,電阻值的變動越低
* B, N- V" o. T換句話說,用較小尺寸的電阻做串聯時,電阻的變動會較低

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yhchang + 4 Good answer!
woo240 + 3 您的回答很詳盡,謝謝你了,以後有問題 ...

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7#
 樓主| 發表於 2007-8-20 22:30:16 | 只看該作者
6樓的樓主很謝謝你的回答& @8 e6 a5 v& ?8 j, t4 n1 H" B
不過又有了一個疑問! V; N# c" c  A( U9 r
就是在電阻應用考量時,我們在layout中是無法做出精密的電阻值,這是要考量的其中之一
) K2 U  ~' P* g但是”小的電阻值會有較大的誤差值”$ u5 W, ]4 C# a$ e
這句”小的電阻值” 我可以把它解釋為以哪一層次來做電阻嗎?(well, diffusion, poly, metal)% h4 @4 z) [3 R
是說以metal來畫電阻的話會比用poly來畫的誤差大嗎?  p+ e4 v) Q, {: |
如果是的話,那為何不用well做電阻呢?
8#
發表於 2007-8-22 09:46:14 | 只看該作者

回復 #7 woo240 的帖子

小的電阻值應該是指面積吧
$ j' a0 }: d. P" c% _# z6 p* u% p面積很小(nwell, diffusion, poly, metal)都一樣誤差大(這是指絕對值)
& m& R, D3 c7 F6 k特別是用diffusion產生的電阻  
" e6 X9 x' D2 F* @; V: `你只要知道這材料怎麼做出來…就會了解為什誤差會~這麼大~9 Z5 L2 h0 c) T
但是相對於同一個 ic 裡的同一個材料的電阻" N$ P  i' o1 G9 z
彼此的電阻比值誤差很小 ( 前提是有考慮好matching )
9#
發表於 2007-8-22 10:17:48 | 只看該作者
原帖由 woo240 於 2007-8-20 10:30 PM 發表
+ ~8 O+ Y$ E' O# Q; |6樓的樓主很謝謝你的回答
6 j: G/ j6 x% ?6 ^) ]. L不過又有了一個疑問: Q* J5 s& J+ R' c
就是在電阻應用考量時,我們在layout中是無法做出精密的電阻值,這是要考量的其中之一
" Z- J6 F( j/ N/ i# H# V但是”小的電阻值會有較大的誤差值”
6 O9 ?, a. l4 G8 U這句”小的電阻值” 我可以把它解 ...

2 T2 K: j/ M' t; O1 Q6 {& Q  e4 R& [  w0 ?4 ]* U8 ~
小的电阻值的理解是错误的  这句话应该理解为: 为了保证电阻值的精度范围,需要W/L 的值越大越好;另外,单个电阻是很以实现精确的电阻值的(金属电阻除外),你需要保证的只是电阻的比例而已,而这是可以通过matching 来实现的
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